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Horiba纳米颗粒分析仪SZ-100系列
    发布时间: 2018-11-21 17:01    

概要

SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析,zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定。SZ-100的典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。

颗粒分析仪采用动态光散射原理(DLS)。根据样品的物理性质,动态测量范围为0.3 nm 8 µm。检测范围的下限受到以下因素的影响:样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响,因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降。

SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池,通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位。 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多,斥力较大,较难发生团聚,溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地,发现zeta电位为零时(就是说,样品处于等电点),就要考虑选择最佳条件将颗粒进行絮凝和分离。

SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液,然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线,从而计算出MwA2


特征

    将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一身

    宽检测范围,宽浓度范围

    双光路双角度粒径测量(90° 173°)

    多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射光

    用于粒径和zeta电位检测的微量样品池

    自动滴定仪:可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定


規格

    粒径:动态光散射原理(DSL

    测量范围

    颗粒直径:0.3nm-8.0μm

    测量精度

    粒径:按照ISO 13321/22412

    可溯源的NIST聚苯乙烯乳胶颗粒:100nm测量精度= +/- 2%

    浓度

       下限:0.1 mg/mL溶菌酶

       上限:40 wt % (视样品而定)

    测量时间粒径分析一般需大约2分钟(可自行设定)

    样品池:比色皿样品池

    取样量:12μl 4ml* * 取样量取决于样品池容量。)

      Zeta电位:激光多普勒法

    测量范围:-200 +200mV

    测量时间:一般需大约2分钟

    样品池:专用一次性样品池 

    取样量:~100μl,一次性样品池

    分子量:静态光散射德拜曲线法

    测量范围:Mw: 1×103 - 2×107 g/mol

    样品池:比色皿样品池

    物理参数:电源:AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA

    激光:二极管泵浦倍频激光器 532 nm10 mW I

    接口:USB 2.0,连接电脑与设备

    外形尺寸:385(D) ´ 528(W) ´ 273(H) mm (不计凸起部分)

    重量:25kg

    控温范围:1-90℃,电极池和塑料池上限为70

    工作环境:15-35℃,相对湿度≤85%,无结露

    冷凝控制:可连接吹扫气


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